平成30年度 春期 午前Ⅱ 問4

✓ これが正解ウバウンダリスキャンテストの標準方式

解説

JTAG はバウンダリスキャンテストの標準方式です。

JTAG は、IEEE 1149.1 として標準化された、バウンダリスキャンテストのための方式です。IC の各入出力端子の内側に値を保持するレジスタを置き、それらを数珠つなぎにして、少数の専用の信号線を通じて外から値を設定したり読み出したりします。これにより、端子にプローブを当てられない高密度な基板でも、部品の間の配線のつながりや、はんだ付けの不良を検査できます。この仕組みは、プロセッサのデバッグやフラッシュメモリへの書込みの入口としても使われています。見分ける軸は、端子の周りに並べたレジスタを使う検査かどうかです。端子の周りを順につないでスキャンする方式、と押さえておけば選べます。

ほかの選択肢はなぜ違うのか

• ア組合せ回路のテスト生成方式：組合せ回路のテスト生成方式は、回路の故障を見つけ出すためにどのような入力パターンを与えればよいかを求める手法です。どんなテスト入力を作るかの話であり、端子の周りのレジスタを通じて値を出し入れする JTAG の仕組みとは異なります。
• イテストプローブを用いた導通テストの方法：テストプローブを用いた導通テストは、基板上の検査点に針を直接当てて、配線がつながっているかを調べる方法です。物理的に接触できる箇所が必要で、プローブを当てずに端子の信号を操作するバウンダリスキャンとは逆の考え方です。
• エビルトインセルフテストの方式：ビルトインセルフテストは、チップ自身の中にテスト用の回路を組み込み、自分で自分を検査させる方式です。JTAG の端子から起動されることはありますが、JTAG の規格そのものはバウンダリスキャンテストの方式を定めたものです。